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追光逐電:二維激子光電特性的動態(tài)調(diào)控

更新時間:2025-11-28點(diǎn)擊次數(shù):85

1、背景介紹

在現(xiàn)代信息技術(shù)和光電子學(xué)領(lǐng)域,探索新型物理效應(yīng)及其應(yīng)用成為推動科技進(jìn)步的關(guān)鍵動力。在摩爾定律逼近物理極限背景下,探索突破傳統(tǒng)半導(dǎo)體材料限制的新型材料和技術(shù)尤為重要。激子作為電中性、類氫型玻色子準(zhǔn)粒子,有望結(jié)合電子和光子優(yōu)勢,促進(jìn)光電系統(tǒng)互連,在下一代光電子學(xué)器件中展現(xiàn)巨大潛力。

由于量子限域效應(yīng)、介電屏蔽作用減弱,二維TMDs半導(dǎo)體中的激子具有納米級的玻爾半徑和高束縛能(高達(dá)500 meV),使激子器件集成、室溫操控激子等成為可能,并且反演對稱破缺和自旋軌道耦合導(dǎo)致二維激子存在能谷自旋,可以取代電荷和自旋作為信息編碼和處理的新路徑。因此,二維激子器件(如激子回路、開關(guān)、晶體管和傳感器等)繼半導(dǎo)體量子阱激子物理與器件后在過去10余年成為新的研究熱點(diǎn)。

本文綜述了近年來二維TMDs半導(dǎo)體材料中激子光電特性主動調(diào)控研究進(jìn)展。如圖1所示,首先通過探討聲表面波(SAW)、粒子輻照、探針誘導(dǎo)、相變調(diào)控等多種主動調(diào)控技術(shù),隨后闡述其對激子動力學(xué)以及器件光電特性的實(shí)時有效調(diào)控,展望二維TMDs半導(dǎo)體材料激子光電特性主動調(diào)控在光電子學(xué)和光傳感等領(lǐng)域的應(yīng)用前景。

圖1 二維TMDs激子主動調(diào)控方法、實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、物理機(jī)制及應(yīng)用

2、主動調(diào)控二維激子的方法

2.1聲表面波調(diào)控技術(shù)

SAW的生成、檢測和控制主要依賴于叉指換能器(IDTs)。如圖2(a)所示,IDTs由周期性排列的金屬指狀電極組成,在外部電場影響下,壓電晶體的偶極子在特定方向重新定向,進(jìn)而使其表面產(chǎn)生方向性的機(jī)械變形波并向前傳播。二維激子對應(yīng)力場和壓電場具有敏感的響應(yīng)特性,而SAW波器件可以同時產(chǎn)生周期性動態(tài)應(yīng)力場和壓電場,因此可以利用SAW實(shí)現(xiàn)動態(tài)調(diào)控二維激子輸運(yùn)及超快動力學(xué)過程。該調(diào)控方法具有非侵入性、可逆性和實(shí)時性的特點(diǎn),能夠在不改變材料本身性質(zhì)的前提下實(shí)現(xiàn)動態(tài)調(diào)控。

圖2 SAW調(diào)節(jié)二維激子傳輸。(a)SAW器件示意圖;(b)單層WSe2的時空映射(左圖)及相應(yīng)剖面(右圖);(c)不同延遲時的光生激子示意圖(左圖)以及相位同步演化的高斯峰位置與延遲時間關(guān)系(右圖);在SAW關(guān)閉(d)和開啟(e)時,雙層WSe2的空間PL映射(左圖)和PL圖像(右圖);(f)由壓電場誘導(dǎo)的導(dǎo)帶和價帶勢能波動示意圖(左圖)以及II型能帶調(diào)制示意圖(右圖)

2.2 輻照調(diào)控技術(shù)

二維材料中的缺陷(如空位、摻雜和雜質(zhì))可以顯著影響其電子和光學(xué)性質(zhì),通過粒子輻照技術(shù),可以在TMDs中主動引入或調(diào)控缺陷,通過缺陷工程來進(jìn)一步優(yōu)化材料的性能,具有操作簡單、等優(yōu)點(diǎn)。在二維材料主動調(diào)控中常用的輻照種類有離子輻照、電子束輻照、γ射線輻照、中子輻照、激光輻照等。

二維TMDs 半導(dǎo)體材料的光致發(fā)光(PL)光譜對缺陷具有高靈敏性。Chow等使用等離子體輻照WS2單層,由于電子束德布羅意波長較短,可以引入原子尺度缺陷。圖3(a)和圖3(b)分別為單層WS2的顯微圖像和未經(jīng)等離子體處理的高分辨透射電子顯微鏡(HR-TEM)圖像,可以觀察到高質(zhì)量單層WS2高度規(guī)則的晶格結(jié)構(gòu),證明其無明顯缺陷。圖3(c)為經(jīng)過大約10 s等離子體輻照處理后單層WS2的HR-TEM 圖像,圓圈標(biāo)示了在晶格中引入的原子尺度點(diǎn)缺陷,與其他晶格點(diǎn)對比相對較暗,表明可能產(chǎn)生了S或W原子空位。此外,輻照后單層WS2[圖3(e)]的PL光譜中存在與缺陷相關(guān)的光譜峰,能量比中性激子峰能量低~0.1 eV[圖3(g)],該缺陷PL 峰隨著缺陷增加而增強(qiáng)。如圖3(g)所示,實(shí)線光譜來自PL積分圖像中實(shí)心圓圈內(nèi)的區(qū)域,虛線光譜來自由虛線圈出的區(qū)域,等離子體處理持續(xù)約30 s,比例尺為2 μm。研究表明,另一種類型的電離輻射——α粒子與二維材料相互作用也會產(chǎn)生類似現(xiàn)象。如圖3(d)所示,α粒子輻照后,PL譜中與缺陷相關(guān)的束縛激子XB出現(xiàn),強(qiáng)度與輻照劑量成正比。值得注意的是,自由激子X0的PL強(qiáng)度也有所提高,可能是由于輻照引入的缺陷提供了電子-空穴對復(fù)合新路徑?;诩{米俄歇(Nano-Auger)電子譜可進(jìn)一步確認(rèn)材料表面產(chǎn)生的缺陷主要為S空位:輻照后俄歇電子譜中硫(S)峰強(qiáng)度降低[圖3(f)]。

圖3 二維TMDs中激子PL的輻照調(diào)控

2.3 探針調(diào)控技術(shù)

相比于傳統(tǒng)圖案基底施加應(yīng)力的方法,借助動態(tài)可調(diào)的原子力顯微(AFM)探針誘導(dǎo)局部應(yīng)力梯度,可實(shí)現(xiàn)激子輸運(yùn)及超快動力學(xué)的精確操控。AFM探針可與其他技術(shù)結(jié)合實(shí)現(xiàn)更加多元高效的激子動力學(xué)調(diào)控。結(jié)合AFM與針尖增強(qiáng)光譜技術(shù),研究者已開發(fā)出多種精確調(diào)控二維TMDs材料光電特性的裝置,如圖4所示。

探針主動調(diào)控方法允許在納米尺度上精確操控激子行為,具有很高的空間分辨率,在前沿基礎(chǔ)物理研究中具有重要應(yīng)用,但是由于復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)配置和特殊的探針結(jié)構(gòu),難以應(yīng)用于集成光電功能器件開發(fā)。

圖4 AFM探針誘導(dǎo)二維材料應(yīng)變主動調(diào)控。(a)測量裝置示意圖;(b)WS2單層光學(xué)顯微圖像;(c)懸浮二維半導(dǎo)體調(diào)控示意圖;(d)空間能量分布變化示意圖;(e)Au納米間隙裝置;(f)探針調(diào)控單層WSe2氣泡區(qū)域示意圖;(g)TMDs單層材料在納米間隙上的模擬應(yīng)變分布;(h)單層材料的局部壓力和應(yīng)變;(i)單層WSe2(左圖)和MoS2(右圖)TEPL光譜;(j)探針誘導(dǎo)自由激子能量漂移的空間分布(左圖)及PL發(fā)光強(qiáng)度空間分布圖(右圖)

2.4 相變調(diào)控技術(shù)

相變材料為二維TMDs半導(dǎo)體材料物理性質(zhì)的調(diào)控提供了一種無須化學(xué)或機(jī)械處理的新途徑,操作簡單,且可通過外部溫度控制實(shí)現(xiàn)可逆調(diào)節(jié)。典型相變材料VO2在不同溫度或光場下可以從絕緣體相(M1相)轉(zhuǎn)變?yōu)榻饘傧啵≧相),與二維TMDs半導(dǎo)體異質(zhì)集成可有效調(diào)控二維激子動力學(xué)與光電特性。

圖5(a)展示了VO2從絕緣體相的單斜晶體結(jié)構(gòu)到金屬相的四方晶體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變。在絕緣體相中,原子排列較為緊密,呈現(xiàn)出明顯的單斜晶體結(jié)構(gòu);而在金屬相中,原子間距增加,呈現(xiàn)出更為規(guī)則的四方晶體結(jié)構(gòu)。上述過程可通過加熱和冷卻可逆地實(shí)現(xiàn)。圖5(c)和圖5(d)展示了VO2相變引起單層MoS2上的拉伸應(yīng)力及其對A1g模式的拉曼頻移。上述拉曼頻移是電子-聲子相互作用增強(qiáng)和應(yīng)力影響晶格振動模式的直接結(jié)果,進(jìn)一步揭示了基于VO2相變對二維TMDs 物理性質(zhì)調(diào)控的潛力。圖5(e)~(f)展示了PL 強(qiáng)度變化的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,隨著溫度的上升,在VO2基底上的二維材料PL發(fā)射強(qiáng)度不斷增強(qiáng)。在MoS2/VO2/SiO2/Si結(jié)構(gòu)中,圖5(h)和圖5(i)描述了入射激光和PL光通過MoS2層后,在不同界面發(fā)生反射和折射的過程,入射光波和反射光波發(fā)生干涉,增強(qiáng)或減弱了MoS2層的局部電場,從而影響其吸收和發(fā)射特性。

圖5 二維材料的相變調(diào)控

3、總結(jié)和展望

本文深入探討了二維TMDs激子的主動調(diào)控技術(shù),包括SAW調(diào)控、粒子輻照、探針誘導(dǎo)和相變調(diào)控等方法。上述技術(shù)通過精確控制激子的動力學(xué)過程,顯著提升了基于TMDs的光電子器件性能。

盡管二維TMDs激子主動調(diào)控已取得顯著進(jìn)展,但是不同的調(diào)控技術(shù)各有優(yōu)勢和局限,需要結(jié)合具體的應(yīng)用需求和操作條件,綜合考慮并選擇合適的方法。此外,激子傳輸路徑與距離的精確控制,依賴于的微納加工技術(shù)。發(fā)展高精度且可大規(guī)模生產(chǎn)的加工技術(shù),對于激子器件的商業(yè)化和實(shí)用化至關(guān)重要。同時,二維激子物理機(jī)制的深入理解也需要進(jìn)一步探索。通過持續(xù)的研究和技術(shù)創(chuàng)新,克服現(xiàn)有挑戰(zhàn),進(jìn)一步推動激子技術(shù)在光電子學(xué)等領(lǐng)域的實(shí)際應(yīng)用,將為后摩爾時代的器件發(fā)展提供新的動力。


參考文獻(xiàn): 中國光學(xué)期刊網(wǎng)





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